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ナノ粒子測定の研究開発動向

従来のナノ粒子の分散凝集測定方法とは?

ナノ粒子の分散凝集測定方法は、粒子の状態(乾燥粉体もしくはスラリー[溶液中のナノ粒子])によって異なります。
乾燥粉体の場合は、測定試料を取り出し透過型電子顕微鏡(TEM)で直接観察する方法が存在します。

スラリーの場合

希釈し動的光散乱光度計にて計測する方法や超音波スペクトロスコピーを用いて測定する方法があります。
ですが、この測定結果の解析が非常に難しいとされています。

いずれの測定方法も研究機関で分析用の測定装置として使用されており、
開発現場や生産ラインで定量的にかつ簡便に、また連続的に測定する方法は未だ存在しておりません。

ナノ粒子の活用が進む中、開発現場や生産ラインで分散凝集を評価する手法の確立および測定装置の開発は急務であり、ユーザーからの要望はきわめて高い状況です。

ナノ粒子分散凝集を定量的に測定する際の課題

ナノ粒子分散凝集を定量的に測定する際の課題は次のような内容があげられます。

Ⅰ 乾燥ナノ粒子の分散凝集を定量的に、測定試料を取り出さずに直接測定する装置は存在しない。
Ⅱ スラリー(溶液中のナノ粒子)を乾燥、希釈等の前処理を行わず測定する装置は存在しない。
Ⅲ 測定装置は研究機関で分析用として使用、測定に時間がかかり、高度な解析技術が求められる。
Ⅳ 測定装置は大型で価格も高く、開発現場や生産ラインに導入できない。

ナノライザーは、これらの課題を克服し、産業界において幅広く、手軽に取り入れられるような装置とするために開発し、今回発売が実現しました。

では実際、従来の測定装置との違いはなんでしょうか。

次回は、「ナノライザーと従来の測定装置との比較」についてご紹介いたします。

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